晶格常数计算公式ρ=ZM/a^3。其中，ρ表示晶体的密度，Z是单位胞（晶胞）中原子、离子或分子的数目，M是单位胞中原子、离子或分子的摩尔质量，a是晶格常数。该公式表明，晶体的密度与晶格常数成反比例关系，即晶格常数越大，密度越小；晶格常数越小，密度越大。
以铜为例，其晶格结构可简化为一个正方形，四个角上的圆直径等于铜原子直径，正方形边长即为晶格常数。从这个关系中可以得出，晶格常数等于铜原子直径的根号二倍。实际计算中，如铜的晶格常数为0.3606纳米。
根号2）*a=4*r，a=2*（根号2）*r。Ni的晶格含有4个Ni，所以其质量为m=4M/NA，体积V为a^3，所以密度就是两者之比。如果将大量的原子聚集到一起构成固体，那么显然原子会有无限多种不同的排列方式。而在相应于平衡状态下的最低能量状态，则要求原子在固体中有规则地排列。
公式：rr+r=4r。，一个晶胞中的原子直径等于两个相邻原子之间的距离。假设一个立方体晶胞中有一个球形原子，直径为d。在立方体中，每个边上有四个相邻的球形原子与它接触。在立方体内部沿着对角线测量时，总共穿过了两倍于正八面体边长（即2√3/2）和三倍于球形半径（即3r）。
晶格常数计算公式：a=入射波长/2sinθ根号下h2+k2+l2。晶格常数指的就是晶胞的边长，也就是每一个平行六面体单元的边长，它是晶体结构的一个重要基本参数。
打单晶是指单晶X射线衍射，X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。
没有重原子能测绝对构型。需要样品为单晶，一般来说三维尺寸0.1mm以上的凸多面体为佳，测试后所得到的直接测试结果是一套晶体衍射照片，利用随机附带软件，通过对照片的还原可以得到描述晶体结构的原始文件，此原始文件可以通过软件来进行精修，以获得符合现实的对晶体的立体结构的推测。
．新方法同Flack方法的根本差别在于，前者是概率的方法，并非通过单一参数，即Hooft参数判定结果的可靠性，而是给出绝对构型被正确测定的概率，这个概率是一个可以连续变化的百分数。
用Cu靶测绝对构型与用Mo靶是一样的，跟时间没有关系。只是Mo靶射线的波长更短，用它来测定Si以下元素组成物质的绝对构型不够准确。
． 选择大小适度，晶质良好的单晶体作试样，收集衍射数据。2．指标化衍射图，求出晶胞常数，依据全部衍射线的衍射指标，总结出消光规律，推断晶体所属的空间群。3． 将测得的衍射强度作吸收校正，LP校正等各种处理以得出结构振幅|F|。4．相角和初结构的推测。常用推测相角的方法有派特逊函数法及直接法。
每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。
此法用射线计数仪直接记录射线的强度。单晶衍射仪有线性衍射仪、四圆衍射仪和韦森堡衍射仪等，其中以四圆衍射仪（图4），（见彩图）最为通用。所谓四圆是指晶体和计数器藉以调节方位的四个圆，分别称为φ圆、圆、w圆和2θ圆。
南昌航空大学的分析测试中心配备了一系列高端精密设备，旨在支持科研和教学工作。
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1、单晶X射线衍射（X射线晶体学）是一种广泛应用的分析技术，它使用X射线准确测定结晶样品中各原子的实际位置。X射线晶体学系统一般包括专用计算机及相关硬件和软，用以进行仪器控制，数据还原，分子结构求解和精修，以及最终结果的表达和画图。是化学晶体学研究的革命性新设备。
2、轻元素的衍射分析困难主要是由于以下几个原因：衍射强度较低：轻元素的原子量较小，因此其电子密度较低，导致衍射的散射强度也相对较低。这使得在衍射实验中观察和测量轻元素的衍射信号变得困难。探测灵敏度不足：由于衍射强度较低，传统的衍射仪器可能无法准确地检测和测量轻元素的衍射信号。
3、回摆法的装置如图3，样品的转轴垂直于入射单色X射线，围绕转轴安装园筒状底片或在晶体后方，垂直于入射线安装平板底片。若晶体的某一晶轴（如a或b，c）与转轴平行，则在园筒状底片上会出现平行直线，平板底片则出现上下对称的双曲线。
